▲오므론아메리카가 단파 적외선(SWIR) 기술을 이용해 제조 공정 전반에 걸쳐 정밀 검사를 할 수 있는 SWIR(단파적외선) 카메라 시리즈를 발표했다. (사진=오므론)

자동화 솔루션 업체인 오므론오토메이션이 독특한 단파 적외선 기술을 사용해 제조공정 전반에 걸쳐 정밀 검사를 할 수 있는 새로운 단파적외선(SWIR:Short-Wave Infra Red) 카메라 시리즈를 선보였다고 발표했다.

이는 식품과 생필품 제조업계의 제조후 검사 공정상의 어려움을 극복할 수 있게 해 준다.

이 최신 기술을 활용하면 기존 카메라의 능력을 뛰어넘는 탁월한 이미지 및 데이터 촬영 성능을 발휘할 수 있다. 이 카메라는 육안으로 볼 수 있는 것을 넘어서는 민감한 파장으로 산업 전반의 다양한 응용 분야에 활용된다.

식품 및 상품 산업의 제조업체는 기계 비전(시각) 검사를 방해하는 주변 조명으로 어려움을 겪는다. 비전 엔지니어와 시스템 설계자는 SWIR 카메라를 활용함으로써 전통적 조명에 의존할 필요없이 고도로 제어되고 정밀한 검사로 가변성을 제거할 수 있다.

반도체 및 전자 산업계에서 제조 후 검사는 침입적 기술을 필요로 한다. SWIR 카메라는 검사자가 다양한 시각 스펙트럼을 통해 볼 수 있도록 한다. 이는 플라스틱 랩이나 실리콘 코팅된 숨겨진 아이템까지 검사를 할 수 있도록 해 주면서 이 프로세스를 혁신한다.

주요 기능은 다음과 같다.

▲최고의 고급 센서=소니 프레지우스 IMX990, IMX991 SWIR 센서

▲사용자 정의를 위한 고유의 인터페이스=긱E비전, USB3 비전, 카메라 링크 인터페이스

▲30만 화소, 또는 130만 화소 해상도

▲방열기술=팬없는 펠티어 냉각 설계

▲환경 의존성 및 변동성 제거=SWIR 기술로 고도로 제어되고 정밀한 검사 가능

▲불가능한 것들에 대한 검사=SWIR 기술로 랩, 실리콘 코팅 제품을 포함한 제조 전 과정 점검